感應耦合電漿質譜儀

(Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer,  ICP-MS)

本儀器主要為偵測樣品中微量金屬元素；樣品溶液經由樣品導入系統進入感應耦合電漿中，經氣化、原子化及離子化後產生單價離子，再藉由真空系統引入質譜系統進行分離與測定。本儀器配合液相層析系統，另可進行樣品溶液中之物種分析。本儀器對金屬元素及許多非金屬元素有極佳的偵測極限，質譜背景較其他原子光譜背景單純且容易解讀，又可用於同位素分析，同位素比 (Isotope ratio) 的測定，其應用領域更廣，舉凡一般重金屬檢驗、環境、食品、藥物、生物醫學、材料、地質、半導體、冶金、石化、能源產業等都有需求。